Studio numerico per il recupero delle micro-cavità superficiali di nastri in acciaio laminati a freddo

Nei nastri di acciaio laminati a freddo la presenza di difetti superficiali rappresenta un aumento del
costo sostenuto dalle aziende produttrici, specialmente quando il nastro viene adottato per applicazioni
in cui sia richiesta un’elevata estetica del pezzo. Si comprende quindi, come la conoscenza dei
meccanismi in grado di innescare la formazione dei difetti e lo studio dei parametri di processo in
grado di ottenere la loro riduzione, rappresentino due importanti obiettivi di ricerca. Da studi
precedenti è emerso come si possa limitare la formazione di uno dei difetti più comuni, il pit,
intervenendo sulla posizione del punto neutro N. Variazioni della posizione di N, infatti, sono possibili
attraverso due importanti variabili di processo quali il tiro a monte agente sul nastro (TIN) e la
riduzione dello spessore (r). Nel presente lavoro, si approfondisce ulteriormente tale indagine,
presentando uno studio di sensibilità al recupero del pit, mediante modellazione FE, al variare della
riduzione r, del tiro TIN e della pendenza della micro-cavità (q).